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半导体技术

TCM、Cache、SPM

项目 TCM (Tightly Coupled Memory) Cache SPM (Scratchpad Memory)
中文 紧耦合存储器 高速缓存 擦写板内存/工作内存
位置 紧耦合在 CPU 内核旁 CPU 内核旁(通常层级多级) 片上 SRAM,CPU 可直接寻址
访问方式 直接寻址(物理地址直接访问) 透明访问(硬件自动缓存管理) 直接寻址(软件直接访问)
控制方式 软件和硬件配合控制 完全硬件控制 完全软件控制
确定性 高,可预测访问延时 不确定,取决于命中率 高,可预测访问延时

详细特点与区别

📌 (1) TCM (Tightly Coupled Memory)

  • 通常用于 ARM Cortex-M 系列等微控制器架构
  • 与 CPU 核心紧耦合,通过 专用总线访问
  • 可用作 指令 TCM (ITCM)数据 TCM (DTCM)
  • 不会被 Cache 替换机制影响,实时性强,延时稳定
  • 地址映射固定,开发者可直接分配函数或数据到 TCM 中
  • 应用场景:实时任务、ISR、关键数据区

📌 (2) Cache

  • 作为 CPU 和主存(DRAM)之间的缓冲区
  • 完全由硬件自动管理: 替换、加载、写回策略自动处理
  • 层次结构:L1 / L2 / L3
  • 访问速度快,延迟低于主存,但取决于命中率
  • 不可预测延时(miss penalty 不稳定)
  • 应用场景:通用加速内存访问,提升平均性能

📌 (3) SPM (Scratchpad Memory)

  • 片上 SRAM,软件可直接访问和管理
  • 没有硬件替换机制,内存管理完全由软件负责
  • 常用于 DSP、嵌入式 SoC(部分 Cortex-A、DSP 架构)
  • 访问延时固定,可预测性好,实时性强
  • 开发者需要 手动搬移数据(通过 DMA 或软件 copy)
  • 应用场景:FFT、卷积等确定性算法的中间缓存

本质区别
维度 TCM Cache SPM
访问方式 CPU 直接访问 CPU 透明访问 CPU 直接访问
控制权 硬件+软件 完全硬件 完全软件
延迟可预测性 ✅ 可预测 ❌ 不可预测 ✅ 可预测
是否自动搬移数据 ✅ 自动搬移
是否会被替换
编程复杂度

对应应用场景举例
  • TCM:
    • 实时操作系统内核代码
    • 硬实时中断服务程序
  • Cache:
    • 提升一般任务 CPU 性能(如 Linux 上的应用程序运行)
  • SPM:
    • 图像卷积临时缓存
    • 大规模矩阵运算分块计算临时区域
    • FFT 算法缓冲区

晶体管

场效应晶体管 (FET)

场效应晶体管 (FET) 的概念首先由奥匈帝国出生的物理学家Julius Edgar Lilienfeld于 1925 年获得专利,并于 1934 年由Oskar Heil获得专利,但他们无法基于该概念构建出实用的半导体器件。 

第一个成功制造的 FET 器件是结型场效应晶体管(JFET)。 JFET 最初由Heinrich Welker于 1945 年获得专利。静态感应晶体管(SIT) 是一种短沟道 JFET,由日本工程师Jun-ichi Nishizawa和 Y. Watanabe 于 1950 年发明。 1952 年的 JFET, George C. DaceyIan M. Ross在 1953 年制造了实用的 JFET。然而,JFET 仍然存在影响结型晶体管的问题。结型晶体管是体积相对较大的器件,难以大规模生产,这限制了它们在许多专业应用中的应用。绝缘栅场效应晶体管 (IGFET) 理论上被认为是结型晶体管的潜在替代品,但研究人员无法构建可工作的 IGFET,这主要是由于麻烦的表面态势垒阻止了外部电场渗透到材料中。到 20 世纪 50 年代中期,研究人员基本上放弃了 FET 概念,转而关注双极结型晶体管(BJT) 技术。

 Mohamed AtallaDawon Kahng于 1959 年提出了一种硅 MOS 晶体管,并于 1960 年与他们的贝尔实验室团队成功演示了一种可工作的 MOS 器件。

CMOS (互补 MOS)是一种 MOSFET 的半导体器件制造工艺,由Fairchild SemiconductorChih-Tang SahFrank Wanlass于 1963 年开发。第一个关于浮栅 MOSFET的报告是由 Dawon Kahng 和Simon Sze于 1967 年提出的。

双栅极MOSFET 于 1984 年由电工实验室研究人员 Toshihiro Sekikawa 和 Yutaka Hayashi 首次演示。 

FinFET (鳍式场效应晶体管)是一种3D非平面多栅极MOSFET,起源于1989年日立中央研究实验室的Digh Hisamoto及其团队的研究。

FET 的三个端子是:

  1. source (S), through which the carriers enter the channel. Conventionally, current entering the channel at S is designated by I.

    源(S),载流子通过它进入信道。传统上,在S处进入通道的电流由I S表示。

  2. drain (D), through which the carriers leave the channel. Conventionally, current leaving the channel at D is designated by I. Drain-to-source voltage is V.

    漏极 (D),载流子通过它离开沟道。按照惯例,在 D 处离开通道的电流由 I D表示。漏源电压为V DS 。

  3. gate (G), the terminal that modulates the channel conductivity. By applying voltage to G, one can control I.

    栅极 (G),调节沟道电导率的端子。通过向 G 施加电压,可以控制 I D 。

互补金属氧化物半导体(CMOS)

互补金属氧化物半导体( CMOS ,发音为“sea-moss”, / s iː m ɑː s / , /- ɒ s / )是一种金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)制造工艺,采用用于逻辑功能的互补且对称的p 型n 型MOSFET 对。 CMOS技术用于构建集成电路(IC)芯片,包括微处理器微控制器存储芯片(包括CMOS BIOS )和其他数字逻辑电路。 CMOS 技术还用于模拟电路,例如图像传感器CMOS 传感器)、数据转换器射频电路RF CMOS ) 以及用于多种类型通信的高度集成收发器

使用互补的p沟道n沟道MOSFET组合的电路称为CMOS(互补MOS)。CMOS逻辑IC以各种方式组合MOSFET来实现逻辑功能。

由一对p沟道和n沟道MOSFET组成的逻辑门称为反相器。

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通过组合p沟道和n沟道MOSFET可以实现各种逻辑功能。

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与门

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或门

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